半導體芯片冷熱沖擊試驗方法高低溫沖擊試驗箱：

目的：

芯片在生產過程中，需要對其進行冷熱沖擊試驗。一般情況下，民用芯片的正常工作溫度范圍是 0℃-70℃，其他芯片性能更高，正常工作溫度范圍是 -55℃-125℃。以上溫度范圍都是芯片工作下的溫度范圍，當芯片不工作時，可以承受超過 200℃ 的焊接溫度。

試件：

將試件芯片通電置于置物架上;

根據要求設定試驗溫度:

首先對試件進行低溫試驗，再進行高溫試驗，循環次數依要求進行:記錄半導體芯片工作狀態下，在設定溫度下的相關參數，對產品分析，工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的數據依據。

試件從低溫或是高溫試驗開始，不同標準有不同的解析。若試驗從低溫段開始，試驗結束在高溫段，若試驗從高溫段開始，結束在低溫段。為防止試件在試驗結束后表面產品凝露，試驗結束在低溫段時需要增加烘干恢復的過程，這樣就增加了試驗周期，建議試驗從低溫段開始，結束在高溫段。

溫度范圍：-65℃～150℃

低溫沖擊：-40℃，-55℃，-65℃

高溫沖擊：65℃，85℃，125℃

溫度沖擊時間小于3min，1min

溫度保持時間30min，60min

測試時間不能少于1000個循環

熱壓器/無偏壓 HAST測試 參考標準：JESD22-A118

溫度范圍：100℃～143℃

濕度范圍：70%RH～100%RH

壓力范圍：0.5kg～3.5kg

測試時間不能少于200小時，具體根據用戶實際要求，有些需要達到500小時到1000小時等不同時間

其他測試標準：GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法，GJB 150.3-1986 高溫試驗， 低溫試驗， GB 11158《高溫試驗箱技術條件》， IEC60068-2-14 等測試標準。